看了這個(gè)標(biāo)題，也許您覺(jué)得挺奇怪，工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡的主要用途不就是發(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)表面或者結(jié)構(gòu)方面的缺陷嗎？通過(guò)呈現(xiàn)清晰的圖像，助力檢測(cè)者發(fā)現(xiàn)缺陷不就夠了嗎？這種理解在內(nèi)窺鏡應(yīng)用初期的確是正確的，但是隨著人們對(duì)檢測(cè)要求的提升，不能僅僅發(fā)現(xiàn)缺陷，還需要對(duì)缺陷的嚴(yán)重程度、發(fā)展速度、及其對(duì)設(shè)備安全性的影響等進(jìn)行分析，也就是題目中所述的研判，這對(duì)于做出正確的處理決策尤為重要。

傳統(tǒng)的做法，檢測(cè)人員根據(jù)看到的影像，憑借既有的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)對(duì)缺陷做出分析判斷。這種方法對(duì)于檢測(cè)人員的要求很高，而且主觀性太強(qiáng)，不具有良好的可重復(fù)性，對(duì)檢出缺陷的正確研判需要更為客觀的、可重復(fù)的技術(shù)手段的支持，這就是缺陷測(cè)量技術(shù)。根據(jù)缺陷的形狀、種類(lèi)，對(duì)缺陷的相應(yīng)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，用數(shù)據(jù)表征缺陷的嚴(yán)重程度、用歷史數(shù)據(jù)的比對(duì)表征缺陷的發(fā)展速度，從而可以更為客觀地分析其對(duì)設(shè)備安全性的影響，以便做出正確處理決策。

用測(cè)量數(shù)據(jù)說(shuō)話(huà)的理念雖然是一種進(jìn)步，但是測(cè)量技術(shù)的發(fā)展與成熟需要時(shí)間的沉淀，過(guò)去很長(zhǎng)一段時(shí)間測(cè)量技術(shù)存在測(cè)量模式少、測(cè)量精準(zhǔn)度低、操作不便等諸多問(wèn)題。直到韋林工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡Mentor Visual iQ搭載的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)的出現(xiàn)，使得測(cè)量技術(shù)有了質(zhì)的飛躍，在上述各個(gè)方面都有大幅提升。

韋林的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)不僅采用了大視野的測(cè)量鏡頭、新穎的光柵掃描三維輪廓重構(gòu)原理，而且將豐富的測(cè)量模式與新引入的測(cè)量概念（測(cè)量平面等）相結(jié)合，大幅提升了操作效率和缺陷測(cè)量的精準(zhǔn)度。以測(cè)量平面為例，在工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡的一大應(yīng)用領(lǐng)域——發(fā)動(dòng)機(jī)孔探檢測(cè)中，測(cè)量平面可以與多種測(cè)量模式相結(jié)合，使得在沒(méi)有3D數(shù)據(jù)的區(qū)域選點(diǎn)測(cè)量成為可能，大大提升缺陷測(cè)量覆蓋面和準(zhǔn)確性，解決的實(shí)際檢測(cè)難題包括：

? 結(jié)合面積模式判斷葉片邊緣缺失大小

? 結(jié)合點(diǎn)到線模式判斷葉片邊緣損傷

? 結(jié)合深度模式判斷葉片與機(jī)匣間隙

? 結(jié)合長(zhǎng)度模式或點(diǎn)到線模式判斷小的缺陷的大小

? 結(jié)合區(qū)域深度剖面模式判斷坑的深度

? 結(jié)合深度剖面測(cè)量光標(biāo)點(diǎn)無(wú)法在參考平面定位的區(qū)域

韋林工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡能夠?qū)z出缺陷做出更正確研判，而同時(shí)并沒(méi)有添加操作的復(fù)雜性，這一特點(diǎn)體現(xiàn)在很多方面，例如：相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用，使得觀察和測(cè)量之間，無(wú)需更換鏡頭，更快捷；再如，作為一種新引入的技術(shù)，測(cè)量平面與其他測(cè)量模式的結(jié)合應(yīng)用也非常簡(jiǎn)潔，我們可以一起看一個(gè)例子，使用韋林內(nèi)窺鏡MViQ對(duì)渦輪發(fā)動(dòng)機(jī)檢測(cè)過(guò)程中，檢出葉片缺失角，對(duì)缺失角尺寸的測(cè)量步驟很簡(jiǎn)單，但是更精準(zhǔn)更智能：

? 結(jié)合面積測(cè)量使用測(cè)量平面；

? 根據(jù)EVA值警告來(lái)調(diào)整探頭位置至理想位置；

? 將測(cè)量平面放在靠近缺失角的表面上；

? 進(jìn)行面積測(cè)量，在剩下的缺角部分的每個(gè)角上放置一個(gè)光標(biāo)，在缺失角以前的位置上放一個(gè)光標(biāo)，以便還原缺失角形狀；

? 調(diào)整光標(biāo)點(diǎn)使延長(zhǎng)線與缺失角的邊緣角重合；

? 缺失面積、缺失邊緣尺寸和缺角角度都無(wú)需進(jìn)行額外測(cè)量，系統(tǒng)自動(dòng)給出結(jié)果。

使用工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡對(duì)檢出缺陷做出正確研判，您需要先進(jìn)測(cè)量技術(shù)的輔助，韋林的相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)助您一臂之力!

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